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硅基集成芯片制造工艺原理
作者:
李炳宗 茹国平 屈新萍 蒋玉龙 编著
定价:
298 元
页数:
862页
ISBN:
978-7-309-14995-1/T.668
字数:
1392千字
开本:
16 开
装帧:
精装
出版日期:
2021年11月       
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内容提要


       自1958年集成电路诞生以来,硅基集成芯片制造技术迅速发展,现今已经进入亚5nm时代。硅基芯片制造技术可以概括为一系列微细加工硅片技术,这些愈益精密的微细加工技术持续创新与升级,源于20世纪初以来现代物理等物质科学知识的长期积累。充分了解各种微细加工技术背后的科学原理,是理解和掌握集成芯片制造工艺技术的基础。
       全书共20章。前8章概述硅基集成芯片从小规模到极大规模集成的创新演进路径,分析集成芯片制造技术快速升级换代的独特规律,研判器件微小型化技术与摩尔规律的内在联系,并对半导体物理和晶体管原理基础理论知识作概要讨论。后12章分别阐述热氧化、硅单晶与外延生长及SOI晶片、精密图形光刻、扩散掺杂、离子注入与快速退火、PVD与CVD及ALD薄膜淀积、高密度等离子体刻蚀、金属硅化物自对准接触和多层金属互连等多种集成芯片微细加工关键技术,着力分析讨论各种微细加工技术的物理、化学基础原理与规律,其间对制造工艺中广泛应用的真空技术与等离子体技术作概要介绍。本书特别关注进入21世纪以来正在发展的集成芯片制造技术的新结构、新材料、新工艺和新趋势,介绍包括高密度超微立体晶体管和纳米CMOS等集成器件的典型结构与制造工艺。
      
       This book focuses on the Si micro-fabrication technology. Since the invention of integrated circuits (IC) in 1958, the Si micro-fabrication technology has been developing rapidly thanks to the advances in modern physics and other fundamental sciences from the beginning of the 20th century. Fully understanding the scientific principles underlying the various micro-fabrication technologies is the basis for studying and mastering the Si IC chip process technology.
       This book consists of 20 chapters. The first 8 chapters outline the evolution and innovation of the CMOS and bipolar IC process technology over the past six decades, analyze the unique law of Si IC micro-fabrication technology evolution, discuss the relationship between the scaling-down principle and the Moore’s Law, and review the basic theories of semiconductor physics and transistors. The following 12 chapters elaborate on such key process technologies of Si IC chips as thermal oxidation, Si epitaxial growth and SOI material, lithography, dopant diffusion, ion implant and RTA, PVD/CVD/ALD thin films, high density plasma etching, salicide contact and multi-level interconnection. The physical and chemical principles underlying the micro-fabrication technology are analyzed and discussed for better understanding. Besides, more attention is paid to the fabrication technology of nano-CMOS chips with new structures and materials.
      

作者简介


       李炳宗,复旦大学微电子学院退休教授、博导。1962年1月毕业于莫斯科大学物理系,自1962年先后在复旦大学物理系、电子工程系和微电子学院从事半导体与集成电路技术教学与科研。1981年10月至1983年9月作为访问学者,在美国参与超大规模集成电路工艺技术研究。自1984年起先后主持与完成多项集成电路工艺及薄膜领域的国家科技攻关和自然科学基金课题研究,曾获“国家教委科技进步二等奖”等。
      
       茹国平,复旦大学微电子学院教授、博导。1990年本科毕业于南京大学物理系,1995年在中科院上海微系统所获博士学位。自1995年8月起在复旦大学电子工程系和微电子学院从事微电子薄膜材料和器件的教学与科研,发表论文100余篇,曾在多个国际会议作邀请报告,担任多个国际会议主席和委员,现为IEEE高级会员。
      
       屈新萍,复旦大学微电子学院教授、博导。主要从事集成电路先进互连新材料和结构、化学机械抛光及后清洗、芯片电镀等研究,发表论文近200篇。曾主持国家高技术研究发展计划课题、国家02重大专项子课题等,在互连领域和国内外科研单位和公司开展了密切的合作。曾获“教育部新世纪优秀人才”、“上海市科技启明星”、上海市“曙光学者”等称号。
      
       蒋玉龙,复旦大学微电子学院教授、博导,复旦大学教师教学发展中心副主任。主要从事集成电路先进工艺与器件、功率器件、CMOS图像传感器和柔性电子器件研究,在IEEE EDL、TED、IEDM上发表论文20篇。主持国家级一流本科课程。曾获 “上海市青年科技启明星”称号,以及“上海市育才奖”、“上海市教学成果奖”、“首届全国高校教师教学创新大赛一等奖”等奖励。
      

书摘

书评       

   

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